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上海市市场监管局关于发布《地面用晶体硅光伏组件行业安全生产标准化基本要求》等5项地方标准的通知
沪市监标技〔2019〕170号 市应急管理局，武警上海市总队，市农业农村委员会，市公安局，各有关单位： 《地面用晶体硅光伏组件行业安全生产标准化基本要求》等5项地方标准已经我局审查通过，现予以发布。 标准编号及名称为： DB31/T 1155-2019保安犬的训练及使用规范 DB31/T 1156-2019电气火灾熔痕技术鉴定、电子背散射衍射法 DB31/T 1157-2019地面用晶体硅光伏组件行业安全生产标准化基本要求 DB31/T 1158-2019建设项目职业病防护设施竣工验收规范 DB31/T 1159-2019电动汽车灭火和应急救援指南 以上标准计划自2019年7月1日起实施，具体实施日期以国家标准委地方标准备案公告为准。 特此通知。 上海市市
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标准号：GB/T 6616-2009 半导体硅片电阻率及硅薄膜薄层电阻测试方法 非接触涡流法
中文标准名称：半导体硅片电阻率及硅薄膜薄层电阻测试方法 非接触涡流法 英文标准名称：Test methods for measuring resistivity of semiconductor wafers or sheet resistance of semiconductor films with a noncontact eddy-current gauge 标准状态：现行 该推荐性标准采用了ISO、IEC等国际国外组织的标准，由于涉及版权保护问题，本系统暂不提供在线阅读服务。如需正式标准出版物，请联系中国标准出版社。 中国标准分类号（CCS）H80 国际标准分类号（ICS）29.045 发布日期2009-10-30 实施日期 2010-06-01 主管部门：国家标准化管理委员会 归口单位：全国半导体设备和材料标准化技术委员会 发布单位
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标准号：GB/T 4298-1984 半导体硅材料中杂质元素的活化分析方法
中文标准名称：半导体硅材料中杂质元素的活化分析方法 英文标准名称：The activation analysis method for the determination of elemental impurities in semiconductor silicon materials 标准状态：现行 在线预览 中国标准分类号（CCS）H17 国际标准分类号（ICS） 发布日期1984-03-28 实施日期 1985-03-01 主管部门：中国有色金属工业协会 归口单位：中国有色金属工业协会 发布单位：中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会 备注：1985-03-01实施
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标准号：GB/T 9535-1998 地面用晶体硅光伏组件 设计鉴定和定型
中文标准名称：地面用晶体硅光伏组件 设计鉴定和定型 英文标准名称：Crystalline silicon terrestrial photovoltaic (PV) modules-design qualification and type approval 标准状态：现行 该推荐性标准采用了ISO、IEC等国际国外组织的标准，由于涉及版权保护问题，本系统暂不提供在线阅读服务。如需正式标准出版物，请联系中国标准出版社。 中国标准分类号（CCS）F12 国际标准分类号（ICS）27.160 发布日期1998-11-17 实施日期 1999-06-01 主管部门：工业和信息化部（电子） 归口单位：全国太阳光伏能源系统标准化技术委员会 发布单位：中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委
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标准号：GB/T 18210-2000 晶体硅光伏(PV)方阵 I-V特性的现场测量
中文标准名称：晶体硅光伏(PV)方阵 I-V特性的现场测量 英文标准名称：Crystalline silicon photovoltaic(PV) array--On-site measurement of I-V characteristics 标准状态：现行 该推荐性标准采用了ISO、IEC等国际国外组织的标准，由于涉及版权保护问题，本系统暂不提供在线阅读服务。如需正式标准出版物，请联系中国标准出版社。 中国标准分类号（CCS）K83 国际标准分类号（ICS）27.160 发布日期2000-10-17 实施日期 2001-05-01 主管部门：工业和信息化部（电子） 归口单位：全国太阳光伏能源系统标准化技术委员会 发布单位：中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会 备注
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标准号：GB/T 28276-2012 硅基MEMS制造技术 体硅溶片工艺规范
中文标准名称：硅基MEMS制造技术 体硅溶片工艺规范 英文标准名称：Silicon-based MEMS fabrication technology - Specification for the dissolved wafer process 标准状态：现行 在线预览 中国标准分类号（CCS）L55 国际标准分类号（ICS）31.200 发布日期2012-05-11 实施日期 2012-12-01 主管部门：国家标准化管理委员会 归口单位：全国微机电技术标准化技术委员会 发布单位：中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会 备注：
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标准号：GB/T 6495.11-2016 光伏器件 第11部分：晶体硅太阳电池初始光致衰减测试方法
中文标准名称：光伏器件 第11部分：晶体硅太阳电池初始光致衰减测试方法 英文标准名称：Photovoltaic devices—Part 11: Test method of initial light-induced degradation of crystalline silicon solar cell 标准状态：现行 在线预览 中国标准分类号（CCS）F12 国际标准分类号（ICS）27.160 发布日期2016-04-25 实施日期 2016-11-01 主管部门：国家标准化管理委员会 归口单位：全国半导体设备和材料标准化技术委员会 发布单位：中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会 备注：
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标准号：GB/T 32815-2016 硅基MEMS制造技术 体硅压阻加工工艺规范
中文标准名称：硅基MEMS制造技术 体硅压阻加工工艺规范 英文标准名称：Silicon-based MEMS fabrication technology—Specification for criterion of the bulk silicon piezoresistance process 标准状态：现行 在线预览 中国标准分类号（CCS）L55 国际标准分类号（ICS）31.200 发布日期2016-08-29 实施日期 2017-03-01 主管部门：国家标准化管理委员会 归口单位：全国微机电技术标准化技术委员会 发布单位：中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会 备注：
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