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标准号：GB/T 24579-2009 酸浸取 原子吸收光谱法测定多晶硅表面金属污染物
中文标准名称：酸浸取 原子吸收光谱法测定多晶硅表面金属污染物 英文标准名称：Test method for measuring surface metal contamination of polycrystalline silicon by acid extraction-atomic absorption spectroscopy 标准状态：现行 该推荐性标准采用了ISO、IEC等国际国外组织的标准，由于涉及版权保护问题，本系统暂不提供在线阅读服务。如需正式标准出版物，请联系中国标准出版社。 中国标准分类号（CCS）H80 国际标准分类号（ICS）29.045 发布日期2009-10-30 实施日期 2010-06-01 主管部门：国家标准化管理委员会 归口单位：全国半导体设备和材料标准化技术委员会 发布单位：中华人民共和国国家
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标准号：GB/T 24582-2009 酸浸取 电感耦合等离子质谱仪测定多晶硅表面金属杂质
中文标准名称：酸浸取 电感耦合等离子质谱仪测定多晶硅表面金属杂质 英文标准名称：Test method for measuring surface metal contamination of polycrystalline silicon by acid extraction-inductively coupled plasma mass spectrometry 标准状态：现行 在线预览 中国标准分类号（CCS）H80 国际标准分类号（ICS）29.045 发布日期2009-10-30 实施日期 2010-06-01 主管部门：国家标准化管理委员会 归口单位：全国半导体设备和材料标准化技术委员会 发布单位：中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会 备注：2010-06-01实施
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标准号：GB/T 29057-2012 用区熔拉晶法和光谱分析法评价多晶硅棒的规程
中文标准名称：用区熔拉晶法和光谱分析法评价多晶硅棒的规程 英文标准名称：Practice for evaluation of polocrystalline silicon rods by float-zone crystal growth and spectroscopy 标准状态：现行 该推荐性标准采用了ISO、IEC等国际国外组织的标准，由于涉及版权保护问题，本系统暂不提供在线阅读服务。如需正式标准出版物，请联系中国标准出版社。 中国标准分类号（CCS）H80 国际标准分类号（ICS）29.045 发布日期2012-12-31 实施日期 2013-10-01 主管部门：国家标准化管理委员会 归口单位：全国半导体设备和材料标准化技术委员会 发布单位：中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标
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标准号：GB/T 33236-2016 多晶硅 痕量元素化学分析 辉光放电质谱法
中文标准名称：多晶硅 痕量元素化学分析 辉光放电质谱法 英文标准名称：Polycrystalline silicon—Determination of trace elements—Glow discharge mass spectrometry method 标准状态：即将实施 在线预览 中国标准分类号（CCS）G04 国际标准分类号（ICS）71.040.40 发布日期2016-12-13 实施日期 2017-11-01 主管部门：国家标准化管理委员会 归口单位：全国微束分析标准化技术委员会 发布单位：中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会 备注：
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标准号：GB 29447-2012 多晶硅企业单位产品能源消耗限额
中文标准名称：多晶硅企业单位产品能源消耗限额 英文标准名称：The norm of energy consumption per unit products of polysilicon enterprise 标准状态：现行 在线预览 下载标准 中国标准分类号（CCS）F01 国际标准分类号（ICS）27.010 发布日期2012-12-31 实施日期 2013-10-01 主管部门：国家标准化管理委员会 归口单位：全国能源基础与管理标准化技术委员会 发布单位：中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会 备注：
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