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  • 标准号：GB/T 6619-2009 硅片弯曲度测试方法

    中文标准名称：硅片弯曲度测试方法 英文标准名称：Test methods for bow of silicon wafers 标准状态：现行 该推荐性标准采用了ISO、IEC等国际国外组织的标准，由于涉及版权保护问题，本系统暂不提供在线阅读服务。如需正式标准出版物，请联系中国标准出版社。 中国标准分类号（CCS）H80 国际标准分类号（ICS）29.045 发布日期2009-10-30 实施日期 2010-06-01 主管部门：国家标准化管理委员会 归口单位：全国半导体设备和材料标准化技术委员会 发布单位：中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会 备注：2010-06-01实施,代替GB/T 6619-1995

    2017-09-12 09:46:02
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  • 标准号：GB/T 6620-2009 硅片翘曲度非接触式测试方法

    中文标准名称：硅片翘曲度非接触式测试方法 英文标准名称：Test method for measuring warp on silicon slices by noncontact scanning 标准状态：现行 该推荐性标准采用了ISO、IEC等国际国外组织的标准，由于涉及版权保护问题，本系统暂不提供在线阅读服务。如需正式标准出版物，请联系中国标准出版社。 中国标准分类号（CCS）H82 国际标准分类号（ICS）29.045 发布日期2009-10-30 实施日期 2010-06-01 主管部门：国家标准化管理委员会 归口单位：全国半导体设备和材料标准化技术委员会 发布单位：中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会 备注：2010-06-01实施,代替GB/T 6

    2017-09-12 09:46:01
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  • 标准号：GB/T 6847-2012 影像材料 照相胶片和相纸 卷曲度的测定

    中文标准名称：影像材料 照相胶片和相纸 卷曲度的测定 英文标准名称：Imaging materials - Photographic film and paper - Determination of curl 标准状态：现行 该推荐性标准采用了ISO、IEC等国际国外组织的标准，由于涉及版权保护问题，本系统暂不提供在线阅读服务。如需正式标准出版物，请联系中国标准出版社。 中国标准分类号（CCS）G80 国际标准分类号（ICS）37.040.20 发布日期2012-12-31 实施日期 2013-08-01 主管部门：中国石油和化学工业联合会 归口单位：全国感光材料标准化技术委员会 发布单位：中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会 备注：2012年第41号公告

    2017-09-12 09:43:48
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  • 标准号：GB/T 25257-2010 光学功能薄膜 翘曲度测定方法

    中文标准名称：光学功能薄膜 翘曲度测定方法 英文标准名称：Optical functional films - Determination of warping degree 标准状态：现行 在线预览 中国标准分类号（CCS）G15 国际标准分类号（ICS）71.080.99 发布日期2010-09-26 实施日期 2011-08-01 主管部门：中国石油和化学工业联合会 归口单位：全国光学功能薄膜材料标准化技术委员会 发布单位：中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会 备注：2011-08-01实施

    2017-09-11 16:21:56
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  • 标准号：GB/T 30859-2014 太阳能电池用硅片翘曲度和波纹度测试方法

    中文标准名称：太阳能电池用硅片翘曲度和波纹度测试方法 英文标准名称：Test method for warp and waviness of silicon wafers for solar cells 标准状态：现行 在线预览 中国标准分类号（CCS）H21 国际标准分类号（ICS）77.040 发布日期2014-07-24 实施日期 2015-04-01 主管部门：国家标准化管理委员会 归口单位：全国半导体设备和材料标准化技术委员会 发布单位：中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会 备注：2014年第19号公告

    2017-09-11 15:56:33
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  • 标准号：GB/T 31353-2014 蓝宝石衬底片弯曲度测试方法

    中文标准名称：蓝宝石衬底片弯曲度测试方法 英文标准名称：Test methods for bow of sapphire substrates 标准状态：现行 在线预览 中国标准分类号（CCS）H21 国际标准分类号（ICS）77.040.99 发布日期2014-12-31 实施日期 2015-09-01 主管部门：国家标准化管理委员会 归口单位：全国半导体设备和材料标准化技术委员会 发布单位：中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会 备注：

    2017-09-11 15:53:54
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  • 标准号：GB/T 31352-2014 蓝宝石衬底片翘曲度测试方法

    中文标准名称：蓝宝石衬底片翘曲度测试方法 英文标准名称：Test methods for warp of sapphire substrates 标准状态：现行 在线预览 中国标准分类号（CCS）H21 国际标准分类号（ICS）77.040.99 发布日期2014-12-31 实施日期 2015-09-01 主管部门：国家标准化管理委员会 归口单位：全国半导体设备和材料标准化技术委员会 发布单位：中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会 备注：

    2017-09-11 15:53:53
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  • 标准号：GB/T 31334.2-2015 浸胶帆布试验方法 第2部分：经向卷曲度和密度

    中文标准名称：浸胶帆布试验方法 第2部分：经向卷曲度和密度 英文标准名称：Test methods for dipped canvas—Part 2: Yarn crimp on warp and density 标准状态：现行 在线预览 中国标准分类号（CCS）G47 国际标准分类号（ICS）83.140.99 发布日期2015-02-04 实施日期 2015-06-01 主管部门：中国石油和化学工业联合会 归口单位：全国橡胶与橡胶制品标准化技术委员会 发布单位：中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会 备注：

    2017-09-11 15:53:48
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  • 标准号：GB/T 32280-2015 硅片翘曲度测试 自动非接触扫描法

    中文标准名称：硅片翘曲度测试 自动非接触扫描法 英文标准名称：Test method for warp of silicon wafers—Automated non-contact scanning method 标准状态：现行 在线预览 中国标准分类号（CCS）H21 国际标准分类号（ICS）77.040 发布日期2015-12-10 实施日期 2017-01-01 主管部门：国家标准化管理委员会 归口单位：全国半导体设备和材料标准化技术委员会 发布单位：中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会 备注：

    2017-09-07 15:13:53
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