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标准号:GB/T 14029-1992 半导体集成电路模拟乘法器测试方法的基本原理
中文标准名称:半导体集成电路模拟乘法器测试方法的基本原理 英文标准名称:General principles of measuring methods of analogue multiplier for semiconductor integrated circuits 标准状态:现行 在线预览 中国标准分类号(CCS)L55 国际标准分类号(ICS)31.200 发布日期1992-12-17 实施日期 1993-08-01 主管部门:工业和信息化部(电子) 归口单位:全国半导体器件标准化技术委员会 发布单位:中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会 备注:1993-08-01实施
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标准号:GB/T 14028-1992 半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理
中文标准名称:半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理 英文标准名称:General principles of measuring methods of analogue switches for semiconductor integrated circuits 标准状态:现行 在线预览 中国标准分类号(CCS)L55 国际标准分类号(ICS)31.200 发布日期1992-12-17 实施日期 1993-08-01 主管部门:工业和信息化部(电子) 归口单位:全国半导体器件标准化技术委员会 发布单位:中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会 备注:1993-08-01实施
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标准号:GB/T 14032-1992 半导体集成电路数字锁相环测试方法的基本原理
中文标准名称:半导体集成电路数字锁相环测试方法的基本原理 英文标准名称:General principles of measuring methods of digital phase-locked loop for semiconductor integrated circuits 标准状态:现行 在线预览 中国标准分类号(CCS)L55 国际标准分类号(ICS)31.200 发布日期1992-12-17 实施日期 1993-08-01 主管部门:工业和信息化部(电子) 归口单位:全国半导体器件标准化技术委员会 发布单位:中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会 备注:1993-08-01实施
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标准号:GB/T 14031-1992 半导体集成电路模拟锁相环测试方法的基本原理
中文标准名称:半导体集成电路模拟锁相环测试方法的基本原理 英文标准名称:General principles of measuring methods of analogue phase-loop for semiconductor integrated circuits 标准状态:现行 在线预览 中国标准分类号(CCS)L55 国际标准分类号(ICS)31.200 发布日期1992-12-17 实施日期 1993-08-01 主管部门:工业和信息化部(电子) 归口单位:全国半导体器件标准化技术委员会 发布单位:中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会 备注:1993-08-01实施
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标准号:GB/T 14030-1992 半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理
中文标准名称:半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 英文标准名称:General principles of measuring methods of timer circuits for semiconductor integrated circuits 标准状态:现行 在线预览 中国标准分类号(CCS)L55 国际标准分类号(ICS)31.200 发布日期1992-12-17 实施日期 1993-08-01 主管部门:工业和信息化部(电子) 归口单位:全国半导体器件标准化技术委员会 发布单位:中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会 备注:1993-08-01实施
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标准号:GB/T 14114-1993 半导体集成电路电压/频率和频率/电压转换器测试方法的基本原理
中文标准名称:半导体集成电路电压/频率和频率/电压转换器测试方法的基本原理 英文标准名称:General principles of measuring methods of V/F and F/V converters for semiconductor integrated circuits 标准状态:现行 在线预览 中国标准分类号(CCS)L56 国际标准分类号(ICS)31.200 发布日期1993-01-21 实施日期 1993-08-01 主管部门:工业和信息化部(电子) 归口单位:全国半导体器件标准化技术委员会 发布单位:中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会 备注:1993-08-01实施
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标准号:GB/T 14113-1993 半导体集成电路封装术语
中文标准名称:半导体集成电路封装术语 英文标准名称:Terminology of packages for semiconductor inte-grated circuits 标准状态:现行 该推荐性标准采用了ISO、IEC等国际国外组织的标准,由于涉及版权保护问题,本系统暂不提供在线阅读服务。如需正式标准出版物,请联系中国标准出版社。 中国标准分类号(CCS)L55 国际标准分类号(ICS)31.200 发布日期1993-01-21 实施日期 1993-08-01 主管部门:工业和信息化部(电子) 归口单位:全国半导体器件标准化技术委员会 发布单位:中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会 备注:
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标准号:GB/T 7092-1993 半导体集成电路外形尺寸
中文标准名称:半导体集成电路外形尺寸 英文标准名称:Outline dimensions of semiconductor integratedcircuits 标准状态:现行 在线预览 中国标准分类号(CCS)L55 国际标准分类号(ICS)31.200 发布日期1993-01-21 实施日期 1993-08-01 主管部门:工业和信息化部(电子) 归口单位:全国半导体器件标准化技术委员会 发布单位:中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会 备注:
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标准号:GB/T 14129-1993 半导体集成电路TTL电路系列和品种 PAL系列的品种
中文标准名称:半导体集成电路TTL电路系列和品种 PAL系列的品种 英文标准名称:Series and productsfor TTL semiconductor integrated circuits--Products of series PAL 标准状态:现行 在线预览 中国标准分类号(CCS)L56 国际标准分类号(ICS)31.200 发布日期1993-02-03 实施日期 1993-08-01 主管部门:工业和信息化部(电子) 归口单位:全国半导体器件标准化技术委员会 发布单位:中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会 备注:
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标准号:GB/T 14115-1993 半导体集成电路采样/保持放大器测试方法的基本原理
中文标准名称:半导体集成电路采样/保持放大器测试方法的基本原理 英文标准名称:General principles of measuring methods of Sample/Hold amplifiers for semiconductor integrated circuits 标准状态:现行 在线预览 中国标准分类号(CCS)L56 国际标准分类号(ICS)31.200 发布日期1993-01-21 实施日期 1993-08-01 主管部门:工业和信息化部(电子) 归口单位:全国半导体器件标准化技术委员会 发布单位:中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会 备注:1993-08-01实施