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标准号：GB/T 8757-2006 砷化镓中载流子浓度等离子共振测量方法
中文标准名称：砷化镓中载流子浓度等离子共振测量方法 英文标准名称：Determination of carrier concentration in gallium arsenide by the plasma resonance minimum 标准状态：现行 在线预览 中国标准分类号（CCS）H17 国际标准分类号（ICS）77.040.01 发布日期2006-07-18 实施日期 2006-11-01 主管部门：中国有色金属工业协会 归口单位：中国有色金属工业协会 发布单位：中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会 备注：2006-11-01实施,代替GB/T 8757-1988
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标准号：GB/T 11068-2006 砷化镓外延层载流子浓度电容-电压测量方法
中文标准名称：砷化镓外延层载流子浓度电容-电压测量方法 英文标准名称：Gallium arsenide epitaxial layer - determination of carrier concentration voltage-capacitance method 标准状态：现行 在线预览 中国标准分类号（CCS）H17 国际标准分类号（ICS）77.040.01 发布日期2006-07-18 实施日期 2006-11-01 主管部门：中国有色金属工业协会 归口单位：中国有色金属工业协会 发布单位：中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会 备注：2006-11-01实施,代替GB/T 11068-1989
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标准号：GB/T 1553-2009 硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法
中文标准名称：硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法 英文标准名称：Test methods for minority carrier lifetime in bulk germanium and silicon by measurement of photoconduetivity decay 标准状态：现行 在线预览 中国标准分类号（CCS）H80 国际标准分类号（ICS）29.045 发布日期2009-10-30 实施日期 2010-06-01 主管部门：国家标准化管理委员会 归口单位：全国半导体设备和材料标准化技术委员会 发布单位：中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会 备注：2010-06-01实施,代替GB/T 1553-1997
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标准号：GB/T 14146-2009 硅外延层载流子浓度测定 汞探针电容-电压法
中文标准名称：硅外延层载流子浓度测定 汞探针电容-电压法 英文标准名称：Silicon epitaxial layers-determination of carrier concentration-mercury probe voltages-capacitance method 标准状态：现行 在线预览 中国标准分类号（CCS）H80 国际标准分类号（ICS）29.045 发布日期2009-10-30 实施日期 2010-06-01 主管部门：国家标准化管理委员会 归口单位：全国半导体设备和材料标准化技术委员会 发布单位：中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会 备注：2010-06-01实施,代替GB/T 14146-1993
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标准号：GB/T 26068-2010 硅片载流子复合寿命的无接触微波反射光电导衰减测试方法
中文标准名称：硅片载流子复合寿命的无接触微波反射光电导衰减测试方法 英文标准名称：Test method for carrier recombination lifetime in silicon wafers by non-contact measurement of photoconductivity decay by microwave reflectance 标准状态：现行 在线预览 中国标准分类号（CCS）H80 国际标准分类号（ICS）29.045 发布日期2011-01-10 实施日期 2011-10-01 主管部门：国家标准化管理委员会 归口单位：全国半导体设备和材料标准化技术委员会 发布单位：中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会 备注：2011-10-01实施
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标准号：GB/T 14863-2013 用栅控和非栅控二极管的电压电容关系测定硅外延层中净载流子浓度的方法
中文标准名称：用栅控和非栅控二极管的电压电容关系测定硅外延层中净载流子浓度的方法 英文标准名称：Method for net carrier density in silicon epitaxial layers by voltage-capacitance of gated and ungated diodes 标准状态：现行 在线预览 中国标准分类号（CCS）H80 国际标准分类号（ICS）29.045 发布日期2013-12-31 实施日期 2014-08-15 主管部门：工业和信息化部（电子） 归口单位：工业和信息化部（电子） 发布单位：中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会 备注：2013年第27号公告
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