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标准号：GB/T 1550-1997 非本征半导体材料导电类型测试方法
中文标准名称：非本征半导体材料导电类型测试方法 英文标准名称：Standard methods for measuring conductivity type of extrinsic semiconducting materials 标准状态：现行 该推荐性标准采用了ISO、IEC等国际国外组织的标准，由于涉及版权保护问题，本系统暂不提供在线阅读服务。如需正式标准出版物，请联系中国标准出版社。 中国标准分类号（CCS）H21 国际标准分类号（ICS）77.040.01 发布日期1997-06-03 实施日期 1997-12-01 主管部门：国家标准化管理委员会 归口单位：全国半导体设备和材料标准化技术委员会 发布单位：中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会 备注：1
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标准号：GB/T 4326-2006 非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法
中文标准名称：非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法 英文标准名称：Extrinsic semiconductor single crystals measurement of Hall mobility and Hall coefficient 标准状态：现行 在线预览 中国标准分类号（CCS）H17 国际标准分类号（ICS）77.040.01 发布日期2006-07-18 实施日期 2006-11-01 主管部门：中国有色金属工业协会 归口单位：中国有色金属工业协会 发布单位：中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会 备注：2006-11-01实施,代替GB/T 4326-1984
