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  • 标准号:GB/T 11073-2007 硅片径向电阻率变化的测量方法

    中文标准名称:硅片径向电阻率变化的测量方法 英文标准名称:Standard method for measuring radial resistivity variation on silicon slices 标准状态:现行 在线预览 中国标准分类号(CCS)H17 国际标准分类号(ICS)77.040.01 发布日期2007-09-11 实施日期 2008-02-01 主管部门:中国有色金属工业协会 归口单位:中国有色金属工业协会 发布单位:中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会 备注:2008-02-01实施,代替GB/T 11073-1989

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