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标准号：GB/T 11685-2003 半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪的测量方法
中文标准名称：半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪的测量方法 英文标准名称：Measurement procedures for semiconductor X-ray detector system and semiconductor X-ray energyspectrometers 标准状态：现行 该推荐性标准采用了ISO、IEC等国际国外组织的标准，由于涉及版权保护问题，本系统暂不提供在线阅读服务。如需正式标准出版物，请联系中国标准出版社。 中国标准分类号（CCS）F80 国际标准分类号（ICS）27.120.01 发布日期2003-07-07 实施日期 2004-01-01 主管部门：中国核工业集团公司 归口单位：全国核仪器仪表标准化技术委员会 发布单位：中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中
