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标准号:GB/T 1553-2009 硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法
中文标准名称:硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法 英文标准名称:Test methods for minority carrier lifetime in bulk germanium and silicon by measurement of photoconduetivity decay 标准状态:现行 在线预览 中国标准分类号(CCS)H80 国际标准分类号(ICS)29.045 发布日期2009-10-30 实施日期 2010-06-01 主管部门:国家标准化管理委员会 归口单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会 发布单位:中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会 备注:2010-06-01实施,代替GB/T 1553-1997