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标准号：GB/T 15651.3-2003 半导体分立器件和集成电路 第5-3部分:光电子器件 测试方法
中文标准名称：半导体分立器件和集成电路 第5-3部分:光电子器件 测试方法 英文标准名称：Discrete semiconductor devices and integrated circuits--Part 5-3:Optoelectronic devices--Measuring methods 标准状态：现行 该推荐性标准采用了ISO、IEC等国际国外组织的标准，由于涉及版权保护问题，本系统暂不提供在线阅读服务。如需正式标准出版物，请联系中国标准出版社。 中国标准分类号（CCS）L50 国际标准分类号（ICS）31.260 发布日期2003-11-24 实施日期 2004-08-01 主管部门：工业和信息化部（电子） 归口单位：全国半导体器件标准化技术委员会 发布单位：中华人民共和国国家质量监督检验检疫总
