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标准号：GB/T 20724-2006 薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法
中文标准名称：薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法 英文标准名称：Method of thickness measurement for thin crystal by convergent beam electron diffraction 标准状态：现行 在线预览 中国标准分类号（CCS）N53 国际标准分类号（ICS）71.040.99 发布日期2006-12-25 实施日期 2007-08-01 主管部门：国家标准化管理委员会 归口单位：全国微束分析标准化技术委员会 发布单位：中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会 备注：2007-08-01实施
