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标准号:GB/T 22572-2008 表面化学分析 二次离子质谱 用多δ层参考物质评估深度分辨参数的方法
中文标准名称:表面化学分析 二次离子质谱 用多δ层参考物质评估深度分辨参数的方法 英文标准名称:Surface chemical analysis - Secondary-ion mass spectrometry - Method for estimating depth resolution parameters with multiple delta-layer reference materials 标准状态:现行 该推荐性标准采用了ISO、IEC等国际国外组织的标准,由于涉及版权保护问题,本系统暂不提供在线阅读服务。如需正式标准出版物,请联系中国标准出版社。 中国标准分类号(CCS)G04 国际标准分类号(ICS)71.040.40 发布日期2008-12-11 实施日期 2009-10-01 主管部门:国家标准化管理委员会 归口单位:全国微束分析标准