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标准号:GB/T 27760-2011 利用Si(111)晶面原子台阶对原子力显微镜亚纳米高度测量进行校准的方法
中文标准名称:利用Si(111)晶面原子台阶对原子力显微镜亚纳米高度测量进行校准的方法 英文标准名称:Test method for calibrating the z-magnification of an atomic force microscope at subnanometer displacement levels using si (111) monatomic steps 标准状态:现行 该推荐性标准采用了ISO、IEC等国际国外组织的标准,由于涉及版权保护问题,本系统暂不提供在线阅读服务。如需正式标准出版物,请联系中国标准出版社。 中国标准分类号(CCS)N04 国际标准分类号(ICS)19.020 发布日期2011-12-30 实施日期 2012-05-01 主管部门:中国科学院 归口单位:全国纳米技术标准化技术委员会 发布单位: