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标准号:GB/T 34002-2017 微束分析 透射电子显微术 用周期结构标准物质校准图像放大倍率的方法
中文标准名称:微束分析 透射电子显微术 用周期结构标准物质校准图像放大倍率的方法 英文标准名称:Microbeam analysis—Analytical transmission electron microscopy—Methods for calibrating image magnification by using reference materials having periodic structures 标准状态:即将实施 该推荐性标准采用了ISO、IEC等国际国外组织的标准,由于涉及版权保护问题,本系统暂不提供在线阅读服务。如需正式标准出版物,请联系中国标准出版社。 中国标准分类号(CCS)G04 国际标准分类号(ICS)71.040.40 发布日期2017-07-12 实施日期 2018-06-01 主管部门:国家标准化管理委员会 归口单位:全国