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标准号：GB/T 4937.2-2006 半导体器件 机械和气候试验方法 第2部分:低气压
中文标准名称：半导体器件 机械和气候试验方法 第2部分:低气压 英文标准名称：Semiconductor devices―Mechanical and climatic test methods―Part 2: Low air pressure 标准状态：现行 该推荐性标准采用了ISO、IEC等国际国外组织的标准，由于涉及版权保护问题，本系统暂不提供在线阅读服务。如需正式标准出版物，请联系中国标准出版社。 中国标准分类号（CCS）L40 国际标准分类号（ICS）31.080.01 发布日期2006-08-23 实施日期 2007-02-01 主管部门：工业和信息化部（电子） 归口单位：全国半导体器件标准化技术委员会 发布单位：中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
