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标准号：GB/T 4937.4-2012 半导体器件 机械和气候试验方法 第4部分：强加速稳态湿热试验（HAST）
中文标准名称：半导体器件 机械和气候试验方法 第4部分：强加速稳态湿热试验（HAST） 英文标准名称：Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST) 标准状态：现行 该推荐性标准采用了ISO、IEC等国际国外组织的标准，由于涉及版权保护问题，本系统暂不提供在线阅读服务。如需正式标准出版物，请联系中国标准出版社。 中国标准分类号（CCS）L40 国际标准分类号（ICS）31.080.01 发布日期2012-11-05 实施日期 2013-02-15 主管部门：工业和信息化部（电子） 归口单位：全国半导体器件标准化技术委员会 发布单
