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标准号：GB/T 5201-2012 带电粒子半导体探测器测量方法
中文标准名称：带电粒子半导体探测器测量方法 英文标准名称：Test procedures for semiconductor charged particle detectors 标准状态：现行 该推荐性标准采用了ISO、IEC等国际国外组织的标准，由于涉及版权保护问题，本系统暂不提供在线阅读服务。如需正式标准出版物，请联系中国标准出版社。 中国标准分类号（CCS）F88 国际标准分类号（ICS）27.120 发布日期2012-06-29 实施日期 2012-11-01 主管部门：中国核工业集团公司 归口单位：全国核仪器仪表标准化技术委员会 发布单位：中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会 备注：2012年第13号公告
