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  • 标准号:GB/T 5201-2012 带电粒子半导体探测器测量方法

    中文标准名称:带电粒子半导体探测器测量方法 英文标准名称:Test procedures for semiconductor charged particle detectors 标准状态:现行 该推荐性标准采用了ISO、IEC等国际国外组织的标准,由于涉及版权保护问题,本系统暂不提供在线阅读服务。如需正式标准出版物,请联系中国标准出版社。 中国标准分类号(CCS)F88 国际标准分类号(ICS)27.120 发布日期2012-06-29 实施日期 2012-11-01 主管部门:中国核工业集团公司 归口单位:全国核仪器仪表标准化技术委员会 发布单位:中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会 备注:2012年第13号公告

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