中国电子技术标准化研究院&爱德万测试联合实验室揭牌成立

11月19日，由中国电子技术标准化研究院（以下简称“电子标准院”）联合爱德万测试（中国）管理有限公司共同举办的“爱德万测试·中国电子技术标准化研究院 技术研讨会”在北京举办。本次研讨会主要针对汽车电子、人工智能、高性能处理器、DDR5测试方法等议题进行了研论。

电子标准院孙文龙副院长为技术研讨会致辞，并同爱德万测试（中国）有限公司总经理徐勇先生为“CESI-ADVANTEST联合实验室”进行了实验室揭牌。

电子标准院集成电路测评中心任翔主任对我国汽车电子的市场需求、检测业务进行了阐述，并结合目前国内汽车电子发展情况，对参会人员讲解了中国电子技术标准化研究院汽车电子标准化的工作情况；同时也和参会人员讨论了人工智能芯片国产基准程序的研究测试情况。

电子标准院集成电路测评中心胡海涛工程师对高性能处理器的电参数书测试方法、高速接口测试方法、性能评价方法进行了阐述，同时介绍了集成电路测评中心在为集成电路测试系统资源有限情况下的电参数测试解决方案。

爱德万测试的相关技术人员讲解了下一代高速存储DDR5的测试解决方案、百亿级计算时代加速HPC/AI的测试解决方案等。