标准号：GB/T 22572-2008 表面化学分析 二次离子质谱 用多δ层参考物质评估深度分辨参数的方法

中文标准名称：表面化学分析 二次离子质谱 用多δ层参考物质评估深度分辨参数的方法

英文标准名称：Surface chemical analysis - Secondary-ion mass spectrometry - Method for estimating depth resolution parameters with multiple delta-layer reference materials

标准状态：现行

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中国标准分类号（CCS）G04

国际标准分类号（ICS）71.040.40

发布日期2008-12-11

实施日期 2009-10-01

主管部门：国家标准化管理委员会

归口单位：全国微束分析标准化技术委员会

发布单位：中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会

备注：2009-10-01实施