标准号：GB/T 20724-2006 薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法

中文标准名称：薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法

英文标准名称：Method of thickness measurement for thin crystal by convergent beam electron diffraction

标准状态：现行

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中国标准分类号（CCS）N53

国际标准分类号（ICS）71.040.99

发布日期2006-12-25

实施日期 2007-08-01

主管部门：国家标准化管理委员会

归口单位：全国微束分析标准化技术委员会

发布单位：中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会

备注：2007-08-01实施