标准号：GB/T 15651.3-2003 半导体分立器件和集成电路 第5-3部分:光电子器件 测试方法

中文标准名称：半导体分立器件和集成电路 第5-3部分:光电子器件 测试方法

英文标准名称：Discrete semiconductor devices and integrated circuits--Part 5-3:Optoelectronic devices--Measuring methods

标准状态：现行

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中国标准分类号（CCS）L50

国际标准分类号（ICS）31.260

发布日期2003-11-24

实施日期 2004-08-01

主管部门：工业和信息化部（电子）

归口单位：全国半导体器件标准化技术委员会

发布单位：中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会

备注：2004-08-01实施