标准号：GB/T 11685-2003 半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪的测量方法

中文标准名称：半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪的测量方法

英文标准名称：Measurement procedures for semiconductor X-ray detector system and semiconductor X-ray energyspectrometers

标准状态：现行

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中国标准分类号（CCS）F80

国际标准分类号（ICS）27.120.01

发布日期2003-07-07

实施日期 2004-01-01

主管部门：中国核工业集团公司

归口单位：全国核仪器仪表标准化技术委员会

发布单位：中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会

备注：2004-01-01实施,代替GB/T 11685-1989,GB/T 8992-1988