标准号：GB/T 4937.4-2012 半导体器件 机械和气候试验方法 第4部分：强加速稳态湿热试验（HAST）

中文标准名称：半导体器件 机械和气候试验方法 第4部分：强加速稳态湿热试验（HAST）

英文标准名称：Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST)

标准状态：现行

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中国标准分类号（CCS）L40

国际标准分类号（ICS）31.080.01

发布日期2012-11-05

实施日期 2013-02-15

主管部门：工业和信息化部（电子）

归口单位：全国半导体器件标准化技术委员会

发布单位：中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会

备注：2012年第28号公告