标准号：GB/T 34002-2017 微束分析 透射电子显微术 用周期结构标准物质校准图像放大倍率的方法

中文标准名称：微束分析 透射电子显微术 用周期结构标准物质校准图像放大倍率的方法

英文标准名称：Microbeam analysis—Analytical transmission electron microscopy—Methods for calibrating image magnification by using reference materials having periodic structures

标准状态：即将实施

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中国标准分类号（CCS）G04

国际标准分类号（ICS）71.040.40

发布日期2017-07-12

实施日期 2018-06-01

主管部门：国家标准化管理委员会

归口单位：全国微束分析标准化技术委员会

发布单位：中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会

备注：