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标准号:GB/T 33657-2017 纳米技术 晶圆级纳米尺度相变存储单元电学操作参数测试规范
作者:国家标准全文公开系统
发布时间:2017-09-07
来源:
中文标准名称:纳米技术 晶圆级纳米尺度相变存储单元电学操作参数测试规范
英文标准名称:Nanotechnologies—Electrical operating parameter test specification of wafer level nano-scale phase change memory cells
标准状态:即将实施
中国标准分类号(CCS)L56
国际标准分类号(ICS)31.200
发布日期2017-05-12
实施日期 2017-12-01
主管部门:中国科学院
归口单位:全国纳米技术标准化技术委员会
发布单位:中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
备注: